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技术交流
单模光纤MFD测试条件的探讨

 

 追溯至一、二十年前颁布的ITU-T G.652建议书和IEC 60793-2光纤产品规范中,对非色散位移单模光纤(即通常称为G.652光纤或B1.1B1.3光纤)的光纤截止波长λc的规定中曾有这样的说明:由于光纤在成缆后会使原来的λc变短,因而光纤厂商可将光纤的λc设计成大于工作波长,最长可略大于1 350 nm;因为即使光纤的λc大于工作波长,只要成缆后的光缆截止波长λcc小于工作波长,就能保证光纤的单模传输。但因光缆结构的差异,成缆光纤相对于未成缆光纤的λc位移量并不确定,所以无法建立成缆前后光纤的λc的对应关系。在此之后,特别是近年来,有不少G.652单模光纤产品的λc被设计为大于工作波长。虽然采用这样的光纤制造的光缆,也许有利于改善光缆的宏弯损耗特性,但也给光纤的模场直径(MFD)测试带来了一定的困扰。λc被设计为大于工作波长的G.652单模光纤在1 310 nm测试波长(与典型工作波长等同)下将呈现出非单模传输状态。对此,如何合理考虑和正确建立MFD测试条件,目前的国内和国际标准的测试方法中并未有明确的阐述和规定,而这对于MFD的准确测试却十分重要。

 

 

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